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牛津X-Strata920熒光鍍層測厚光譜儀

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產(chǎn)品型號X-Strata920

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更新時間：2023-01-12 15:58:21瀏覽次數(shù)：340次

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篤摯儀器（上海）有限公司

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產(chǎn)品簡介

快速可靠的X射線熒光鍍層厚度測量及材料分析，低成本、高效率!速，精確的分析:大面積正比計數(shù)探測器和牛津儀器50瓦微聚焦X射線光管(X射線光束強(qiáng)度大，斑點(diǎn)小，樣品激發(fā)佳）相結(jié)合，提供z佳靈敏度

詳細(xì)介紹

產(chǎn)品描述

X-Strata920
快速可靠的X射線熒光鍍層厚度測量及材料分析，低成本、高效率!速，精確的分析:大面積正比計數(shù)探測器和牛津儀器50瓦微聚焦X射線光管(X射線光束強(qiáng)度大，斑點(diǎn)小，樣品激發(fā)佳）相結(jié)合，提供z佳靈敏度

牛津儀器-值得您信賴的品牌!
●從研發(fā)、生產(chǎn)、銷售到服務(wù)，牛津儀器公司在鍍層厚度測量和成份分析領(lǐng)域中擁有20多年豐富經(jīng)驗，為客戶提供可靠性高、成本低且效率高的解決方案
●我們已經(jīng)在世界各地銷告超過3000臺的臺式X射線熒光鍍層測厚儀

X射線熒光(XRF)方法

X射線熒光(XRF)儀器的工作原理是對被測樣品發(fā)射一-東一次X射線，樣品的原子吸收X射線的能量后被激發(fā)并釋放出二次X射線。每個化學(xué)元素會釋放出特定能量的X射線。通過測量這些釋放出的二次射線的特征能量和強(qiáng)度，X射線分析儀就能夠?qū)Ρ粶y材料的鍍層厚度和成份提供定性和定量分析。

X射線熒光分析的優(yōu)點(diǎn)：
●z少或無需樣品制備
●無損分析
●可測元素范圍廣: Tito U92
●可分析固體和溶液
●分析快速: 幾秒內(nèi)得到結(jié)果
●定性、半定量和全定量分析
●操作容易，只需要簡單培訓(xùn)
● X射線熒光標(biāo)準(zhǔn)檢測方法，規(guī)格和操作指導(dǎo)通用，可提高產(chǎn)品質(zhì)量、
安全性，便于市場準(zhǔn)入和貿(mào)易，增強(qiáng)客戶信心。例如:

X-Strata920符合:
一ASTM B568: X射線光譜儀測量鍍層厚度的標(biāo)準(zhǔn)測試方法
一ISO 3497:金屬鍍層- -X射線光譜法測量鍍層厚度

電子行業(yè)

電子、電氣原件
有效控制生產(chǎn)過程，提高生產(chǎn)力
●確保元件可靠性
-同時測量焊料合金成份和鍍層
厚度
●優(yōu)化質(zhì)量控制，確保產(chǎn)品生命期
例如:
一分析導(dǎo)電性鍍層金和鈀的厚度
一測量電腦硬盤上的NiP層厚度

五金電鍍行業(yè)

五金電鍍
電鍍處理的成本z小化，產(chǎn)量z大化
●快速簡單的分析
一同時進(jìn)行單層或多層鍍層厚度
●測量及成份分析
一*多可分析4層鍍層
一鍍液成份分析

金屬合金行業(yè)

金屬合金成份分析和牌號認(rèn)定
珠寶及其他合金的快速無損分析
●貴金屬合金分析
●黃金純度分析
●材料鑒定

X-Strata920高性能的X射線熒光光譜儀
●快速，精確的分析:大面積正比計數(shù)探測器和牛津儀器50瓦微聚焦X射線光管(X射線光束強(qiáng)度大，斑點(diǎn)小，樣品激發(fā)佳）相結(jié)合，提供z佳靈敏度
●簡單的元素區(qū)分:通過次級射線濾波器分離元素的重疊光譜
●性能優(yōu)化，可分析的元素范圍大

X-Strata920堅固耐用的設(shè)計:
●可在實驗室或生產(chǎn)線上操作
●堅固的工業(yè)設(shè)計

簡單的校準(zhǔn)步驟：
●當(dāng)沒有校準(zhǔn)樣品時，基本參數(shù)法(FP)提供了簡單可靠的定量分析結(jié)果
●經(jīng)驗系數(shù)校準(zhǔn)法提供了z佳的準(zhǔn)確性和結(jié)果可溯性，且只需少量標(biāo)準(zhǔn)樣品
●方法建立只需要幾分鐘
●牛津儀器提供認(rèn)證標(biāo)準(zhǔn)樣品(A2LA和ISO/EC 17025認(rèn)證)，確保準(zhǔn)確性

X-Strata920預(yù)置800多種容易選擇的應(yīng)用參數(shù)/方法：
的長期穩(wěn)定性 :
●自動熱補(bǔ)償功能測量儀器溫度變化并做修正，確保穩(wěn)定的測試結(jié)果
●例行進(jìn)行簡單快速的波譜校準(zhǔn)，可自動檢查儀器性能(例如靈敏性)并進(jìn)行必要的修正
X-Strata920避免不同操作的結(jié)果偏差

鐳射聚焦：
●簡單的“定點(diǎn) 按鍵"操作將樣品聚焦
●固定焦距高度: 0.5" (12.7 mm) .
X-Strata920可分析不同形狀和尺寸的樣品