日立高新球差校正掃描透射電子顯微鏡產(chǎn)品簡(jiǎn)介

掃描透射顯微鏡HD-2700，配備了與德國(guó)CEOS GmbH公司（總經(jīng)理Max Haider先生）共同開(kāi)發(fā)的球差校正儀，顯著提高了掃描透射電子顯微鏡的性能，更適合高級(jí)納米技術(shù)研究。由于球差校正系統(tǒng)校正了限制電子顯微鏡的性能的球差，使其與標(biāo)準(zhǔn)型號(hào)顯微鏡相比，分辨率提高了1.5倍，同時(shí)，探針電流提高了10倍。

該顯微鏡還配備了高分辨率鏡頭和冷場(chǎng)發(fā)射電子槍，進(jìn)一步提高了圖像分辨率和電子束能量分辨率。同時(shí)，該型號(hào)系列還增加了一款不帶球差校正的主機(jī)配置，可以以后加配球差校正進(jìn)行升級(jí)。

日立高新球差校正掃描透射電子顯微鏡特點(diǎn)
 
高分辨率掃描透射電子顯微鏡成像
HAADF-STEM圖像0.136nm，F(xiàn)FT圖像0.105nm（高分辨率鏡頭（*））
HAADF-STEM圖像0.144nm（標(biāo)準(zhǔn)鏡頭）
明場(chǎng)掃描透射電子顯微鏡圖像0.204nm（w/o球差校正儀）
高速，高靈敏度能譜分析：探針電流×10倍
元素面分布更迅速及時(shí)
低濃度元素檢測(cè)
操作簡(jiǎn)化
自動(dòng)圖像對(duì)功能
從樣品制備到觀察分析實(shí)現(xiàn)無(wú)縫連接
樣品桿與日立聚焦離子束系統(tǒng)兼容
配有各種選購(gòu)件可執(zhí)行各種評(píng)估和分析操作
同時(shí)獲取和顯示SE&BF, SE&DF, BF&DF, DF/EDX面分布（*） 和DF/EELS面分布（*）圖像。
低劑量功能（*）（使樣品的損傷和污染程度降至zui低）
高精度放大校準(zhǔn)和測(cè)量（*）
實(shí)時(shí)衍射單元（*）（同時(shí)觀察暗場(chǎng)-掃描透射電子顯微鏡圖像和衍射圖案）
采用三維微型柱旋轉(zhuǎn)樣品桿（360度旋轉(zhuǎn)）（*），具有自動(dòng)傾斜圖像獲取功能。
ELV-3000即時(shí)元素面分布系統(tǒng)（*）（同時(shí)獲取暗場(chǎng)-掃描透射電子顯微鏡圖像）
（*） 選購(gòu)件

技術(shù)指標(biāo)
HD-2700球差校正掃描式透射電子顯微鏡