SediGraph®ⅢPlus 全自動(dòng)X光沉降粒度分析儀

   SediGraph使用沉降法從均相液體中分析不同大小的固體顆粒物。通過(guò)對(duì)X-射線(xiàn)的吸收測(cè)量可以直接檢測(cè)分離固體顆粒物的質(zhì)量濃度。測(cè)定一定密度顆粒在已知密度和粘度的液體中的沉降，即可以運(yùn)用Stokes方程來(lái)計(jì)算顆粒的等效球直徑。在這種情況下，報(bào)告中的粒徑就是與測(cè)試顆粒具有相同沉降速度的等效球的直徑。

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久經(jīng)考驗(yàn)的技術(shù)和可靠性

   在過(guò)去的三十多年中，麥克儀器公司的SediGraph許多實(shí)驗(yàn)室粒度分析的標(biāo)準(zhǔn)儀器。無(wú)論是在惡劣的生產(chǎn)環(huán)境還是在專(zhuān)業(yè)的化驗(yàn)室，SediGraph憑借其**的可靠性得出精確的測(cè)量結(jié)果。粒徑分布的測(cè)量采用沉降法，顆粒通過(guò)直接吸收X射線(xiàn)而被測(cè)量。根據(jù)Stockes定律，通過(guò)測(cè)量粒子在液體中的沉降速率，得出粒子粒徑大小，粒徑分析范圍為0.1~300μm。

智能設(shè)計(jì)特色

SediGraph III Plus 粒度分析儀*的設(shè)計(jì)確保了測(cè)量的重復(fù)性和使用的便利性。使得儀器操作更加容易，日常維護(hù)更加簡(jiǎn)單。并且能夠確保對(duì)同一樣品，在任意一臺(tái)SediGraph儀器上都能獲得重復(fù)性*的結(jié)果。

• 簡(jiǎn)化泵系統(tǒng)，確保快速分析和易于維護(hù)

• 降低噪聲，提供更加安靜的工作環(huán)境

• 維護(hù)提醒裝置，根據(jù)總測(cè)試量，提示用戶(hù)進(jìn)行定期維護(hù)

• 電腦控制混合室溫度，提高測(cè)試可重復(fù)性

• Windows操作軟件，以太網(wǎng)連接，可進(jìn)行點(diǎn)擊式選擇菜單，聯(lián)網(wǎng)工作，打印機(jī)選擇，剪切和粘貼等操作

• 多功能和交互式報(bào)告系統(tǒng)，能夠提供多種類(lèi)型的報(bào)告，例如顆粒沉降速度和粒度（以Phi為單位）

多項(xiàng)功能