北京金拓豐儀器設(shè)備有限公司
詳細摘要： ICM-100DICICM-100DIC工業(yè)檢測顯微鏡適用于對工件表面的組織結(jié)構(gòu)與幾何形態(tài)進行顯微觀察
產(chǎn)品型號：所在地：北京市更新時間：2025-02-03 在線留言
詳細摘要： XJL-20XJL-20/20BD倒置金相顯微鏡采用優(yōu)良的無限遠光學系統(tǒng)與模塊化的功能設(shè)計理念，可以方便升級系統(tǒng)，實現(xiàn)偏光觀察、暗場觀察等功能
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詳細摘要： XJL-201XJL-201系列正置金相顯微鏡適用于對不透明物體的進行顯微觀察
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詳細摘要： XJL-101XJL-101系列正置金相顯微鏡適用于對不透明物體的進行顯微觀察
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詳細摘要： XJL-17ATXJL-17系列金相顯微鏡主要用于鑒別和分析金屬內(nèi)部結(jié)構(gòu)組織，為金屬物理學研究金相的重要工具
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詳細摘要： MDIC-100MDIC-100型微分干涉數(shù)碼顯微鏡是一款性價比非常高的檢測用光學儀器
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詳細摘要： 不同于傳統(tǒng)的金相顯微鏡，MXFMS選擇了緊湊的結(jié)構(gòu)設(shè)計，外觀小巧輕便，操作靈活
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詳細摘要： BH200M金相顯微鏡采用平場消色差光學系統(tǒng)和落射式柯拉照明系統(tǒng)，同時在落射照明系統(tǒng)中設(shè)計防反射結(jié)構(gòu)，有效防止反射光干擾成像光線，從而使成像更清晰、視場襯度更好
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詳細摘要： 提供的圖像質(zhì)量和穩(wěn)固可靠的機械結(jié)構(gòu)，操作簡便，附件齊全，廣泛應(yīng)用于教學科研金相分析以及工廠實驗室材料檢測
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詳細摘要： 操作簡便，附件齊全，廣泛應(yīng)用于教學科研金相分析、半導體硅晶片檢測、地址礦物分析、精密工程測量等領(lǐng)域
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詳細摘要： 大行程移動工作平臺，長工作距半復消色差物鏡，圖像銳利清晰，廣泛應(yīng)用于晶圓、FPD等各項工業(yè)檢測
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詳細摘要： 全新RX50M研究級金相顯微鏡集多項于一身，從外觀到性能都緊跟設(shè)計風向，致力于拓展工業(yè)領(lǐng)域全新格局
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詳細摘要： CX40M整合了多款銷量機型的多項技術(shù)優(yōu)勢，并根據(jù)市場需求重新優(yōu)化配置整體性能，以優(yōu)異的成像性能，舒適的操作體驗，為客戶提供高性價比的金相分析及工業(yè)檢測解決方案
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詳細摘要： L2020L2020透反射（雙色）正置金相顯微鏡配置透反射照明系統(tǒng),長距平場消色差物鏡（無蓋玻片）、大視野目鏡和內(nèi)置偏光觀察裝置,光學系統(tǒng)成像清晰,視野廣闊,適...
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詳細摘要： XJL-302DICXJL-302DIC微分干涉相襯顯微鏡適用于對多種物體的顯微觀察
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詳細摘要： L3230BDL3230BD正置明暗視場透反射金相顯微鏡是一種多用途工業(yè)檢驗用光學儀器，配置明/暗場物鏡、大視野目鏡與偏光觀察裝置，透反射照明采用柯勒照明系統(tǒng)，...
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